這款由蘇州同創(chuàng)電子有限公司研發(fā)的硅材料復合測試儀SZT-5，結合了二種硅材料測試儀器的功能，為用戶提供了前所未有的測試體驗。成為了電子工程師和研究人員的得力助手。

一、SZT-5硅材料復合測試儀的概述

SZT-5硅材料復合測試儀，不僅具備二量程的電阻測量功能，還可以通過手持式四針測試頭或座式測試架，輕松測量片狀、柱狀或塊狀半導體材料的電阻率。

SZT-5還配備了整流法硅材料P-N極性判別儀，能夠準確判斷硅材料的導電類型。

二、技術參數(shù)

測量范圍：電阻率測量范圍為0.01-200Ω-cm，方塊電阻測量范圍為0.01-200Ω-口，電阻測量范圍為0.01-200.0Ω。

數(shù)字電壓表：具備200mV單一量程，誤差為讀數(shù)±0.2%±3字，輸入電阻超過10MΩ。

恒流源：電流輸出為0~10mA連續(xù)可調，具備1mA和10mA兩個量程，誤差為±0.2%±3字。

手持式四探針測試頭：探針間距為1mm，探針機械游移率為±1.0%，探針材料為碳化鎢，最大壓力為2Kg。

三、應用領域

SZT-5硅材料復合測試儀普遍用于半導體材料的研究與生產、硅材料薄層擴散和導電薄膜的測試，以及其他需要精確測量電阻率和導電類型的領域。為用戶提供了高效、精確的測試解決方案。

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